高純鎢中痕量雜質的檢測有了解的朋友嗎？

發布時間：2020-06-22

高純鎢中痕量元素的測定是評價高純鎢性能的重要標準，降低痕量元素的測定下限和增加痕量元素的測定數目，提高測量的精確度和靈敏度是高純鎢檢測工藝的主要攻關方向。高純金屬中痕量元素的檢測常用手段有光譜分析、質譜分析、中子分析等。隨著材料純度的提高，傳統的光譜分析以及中子分析所測元素的量及分析靈敏度均不能滿足6N 鎢粉的分析要求，而質譜分析在高純鎢中痕量雜質的檢測方面發揮著越來越重要的作用。

電感耦合等離子質譜法( ICP-MS) 測定方法是新一代痕量分析技術，具有檢測限低、能進行多元素同時分析等優點，但仍存在基體效應的干擾問題。北京有色金屬研究院采取預分離富集技術，借助離子色譜分離基體，降低基體對雜質檢測的干擾，利用膜去溶裝置吹掃溶劑有效地降低了ICP-MS檢測過程中氧化物的產率，精確地測定了6N 鎢粉中的雜質。

與ICP-MS 法相比，輝光放電質譜法(GDMS)具有可對固體樣品直接測量、樣品制備簡單的優點，同時避免了ICP-MS法溶樣過程中難溶元素的損失和污染的引入，可更有效地應用于6N及以上高純鎢的全面分析檢測。隨著儀器靈敏度、分辨率、穩定性等的進一步提高，GD-MS作為對超純樣品直接分析的質譜方法將得到更廣泛的應用。

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